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CFT-II电路板故障综合检测系统
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主要硬件
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主要技术特征
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双VI曲线测试探棒
单电压测试探棒（±60V max）
双属性40路模拟通道
最大测试频率为16K
24路5V离线测试数字通道
精密直流参数测试单元
离线测试器
尺寸：365*70*253mm
示波器：
双通道存储
带宽 110 MHz
最大采样率 250MSa/S
支持电阻、电容、二极管测试
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iASA曲线测试 （专利技术）
单点4窗曲线 （专利技术）
动态电压波形存储对比（专利技术）
电阻、电容、二极管存储对比
IC器件离线直流参数测试
ASA/VI动态参考
Beep
电路板网表提取及测试（专利技术）
自定义测试序列
电路板图像建库
保存测试现场
器件快速离线曲线测试
电路板接口的快速VI曲线测试
外挂示波器（万用表）测试结果自动存入系统、对比测试
支持单飞针测试设备（选购）
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HN1600DX/B电路板故障综合检测系统
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主要硬件
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主要技术特征
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双VI曲线测试探棒
单电压测试探棒（±60V max）
双属性80路模拟通道
最大测试频率为16K
40路5V在/离线测试数字通道
精密直流参数测试单元
离线测试器
尺寸：480mm×140mm×400mm
示波器：
双通道存储
带宽 110 MHz
最大采样率 250MSa/S
支持电阻、电容、二极管测试
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iASA曲线测试 （专利技术）
单点4窗曲线 （专利技术）
动态电压波形存储对比（专利技术）
电阻、电容、二极管存储对比
IC器件离线直流参数测试
ASA/VI动态参考
Beep
电路板网表提取及测试（专利技术）
自定义测试序列
电路板图像建库
保存测试现场
器件快速离线曲线测试
电路板接口的快速VI曲线测试
外挂示波器（万用表）测试结果自动存入系统、对比测试
支持单飞针测试设备（选购）
逻辑器件（在、离线功能）测试
存储器件（在、离线功能）测试
用户自定义测试
运放测试
光耦器件测试
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HN2600DX/B电路板故障综合检测系统
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主要硬件
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主要技术特征
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双VI曲线测试探棒
单电压测试探棒（±60V max）
双属性80路模拟通道
最大测试频率为16K
40路全逻辑电平在/离线测试数字通道
精密直流参数测试单元
离线测试器
尺寸：510mm×170mm×390mm
示波器：
双通道存储
带宽 110 MHz
最大采样率 250MSa/S
支持电阻、电容、二极管测试
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iASA曲线测试 （专利技术）
单点4窗曲线 （专利技术）
动态电压波形存储对比（专利技术）
电阻、电容、二极管存储对比
IC器件离线直流参数测试
ASA/VI动态参考
Beep
电路板网表提取及测试（专利技术）
自定义测试序列
电路板图像建库
保存测试现场
器件快速离线曲线测试
电路板接口的快速VI曲线测试
外挂示波器（万用表）测试结果自动存入系统、对比测试
支持单飞针测试设备（选购）
逻辑器件（在、离线功能）测试
存储器件（在、离线功能）测试
用户自定义测试
运放测试
光耦器件测试
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HN2600DX/C电路板故障综合检测系统
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主要硬件
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主要技术特征
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双VI曲线测试探棒
单电压测试探棒（±60V max）
双属性160路模拟通道
最大测试频率为16K
40路全逻辑电平在/离线测试数字通道
精密直流参数测试单元
离线测试器
尺寸：560mm×170mm×390mm
示波器：
双通道存储
带宽 110 MHz
最大采样率 250MSa/S
支持电阻、电容、二极管测试
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iASA曲线测试 （专利技术）
单点4窗曲线 （专利技术）
动态电压波形存储对比（专利技术）
电阻、电容、二极管存储对比
IC器件离线直流参数测试
ASA/VI动态参考
Beep
电路板网表提取及测试（专利技术）
自定义测试序列
电路板图像建库
保存测试现场
器件快速离线曲线测试
电路板接口的快速VI曲线测试
外挂示波器（万用表）测试结果自动存入系统、对比测试
支持单飞针测试设备（选购）
逻辑器件（在、离线功能）测试
存储器件（在、离线功能）测试
用户自定义测试
运放测试
光耦器件测试
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HN2600MX/C电路板故障综合检测系统
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主要硬件
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主要技术特征
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双VI曲线测试探棒
单电压测试探棒（±60V max）
双属性160路模拟通道
最大测试频率为41.6K
40路全逻辑电平在/离线测试数字通道
精密直流参数测试单元
离线测试器
尺寸：528mm×205mm×423mm
示波器：
双通道存储
带宽 110 MHz
最大采样率 250MSa/S
支持电阻、电容、二极管测试
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iASA曲线测试 （专利技术）
单点4窗曲线 （专利技术）
动态电压波形存储对比（专利技术）
电阻、电容、二极管存储对比
IC器件离线直流参数测试
ASA/VI动态参考
Beep
电路板网表提取及测试（专利技术）
自定义测试序列
电路板图像建库
保存测试现场
器件快速离线曲线测试
电路板接口的快速VI曲线测试
外挂示波器（万用表）测试结果自动存入系统、对比测试
支持单飞针测试设备（选购）
逻辑器件（在、离线功能）测试
存储器件（在、离线功能）测试
用户自定义测试
运放测试
光耦器件测试
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