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本功能用于直接测试离线（没有焊接在电路板上）光耦器件的好坏——无需用户建库、无需事先学习）、或者比较两个相同光耦器件的特性差异。
相比于用户手搭测试电路和市面上大多数光耦测试器，本功能的价值在于能够一定程度测出“不太好”的光耦，甚至识别某些以假乱真的器件，增加你对外面买的、坏板上拆下来的旧器件的信心。
本功能是通过检测光耦的主要直流参数是否达标实现测试的。按照被测试器件的型号调用相应的测试。例如PC817、PC817A、PC817B是不同型号的光耦器件。型号不同、电路图相同的光耦，属于同种器件，同种器件的参数个数、定义均相同，仅有的参数取值不同。
光耦种类众多，很难一下子做好很多种光耦的测试。我们将一种一种地逐步扩充器件种类。目前仅实现了最基本的4种类型。
即使对于最基本的光耦，也有很多参数。本文只介绍测试了哪些参数，没有测试的参数不予介绍，有进一步兴趣的用户可以去查阅相关光耦的PDF文件。
一、基本型线性光耦
电路原理图如下。下面以PC817(夏普)的指标参数为例加以说明。具体参见PC817的PDF。
根据连接提示，将A口01与光耦第1脚（正极）相连，A口02与光耦第4脚（集电极）相连，光耦第2脚、第3脚与测试仪的GND相连。
点击测试按钮 开始测试，测试结果如下：
1. 测试二极管正向电压Vf
普通二极管的导通电压约在0.7V左右，而发光二极管的导通电压一般大于1V。
对于PC817，施加一个正向电流If= 20mA，此时在二极管上产生的正向电压 Vf <= 1.4V 为合格。
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驱动光耦的前级电路主要依据Vf设计。Vf超限会影响光耦的工作稳定性。
2. 测试二极管反向漏电流Ir
二极管的反向电阻一般都很大，根据欧姆定律，这就是说加一个反向电压，流过二极管的电流很小。
对于PC817，施加一个反向电压Vr=6V，流过二极管的反向电流Ir <= 10微安为合格。也就是说，PC817的反向电阻大于 6V / 10uA = 600K 为合格。
3. 测试二极管的特征曲线
4. 测试三极管饱和电压Vceo
在二极管端施加一个正向电流If，通过光电感应产生三极管基极电流，从而产生集电极电流Ic流过三极管，产生集（Collector）- 射（Emitter）电压Vce。
对于PC817，当If=20mA，Ic=1mA时的Vce定义为Vceo，并且Vceo<=0.2V为合格。
饱和电压超限会导致光耦输出的低电平不够低，影响后级电路正常工作。
5. 测试三极管漏电流Iceo
二极管断开，在集电极上施加电压Vc时，从三极管集电极流入发射极的电流。
对于PC817，当施加Vc=20V时，Iceo<=0.1uA为合格。
（小精灵5 的最大测试电压为15V，最小电流约为3微安， 所以实际测试时，施加Vc=15V，Iceo<=3uA判为合格）
Iceo超限会造成光耦截止时仍有三极管电流，导致光耦输出的高电平变低，影响后级电路工作。
6. 测试三极管导通截止曲线
7. 测试电流转换系数Ctr
光耦的Ctr类似于普通三极管的电流放大系数。在二极管上施加正向电流If，经过光电感应会产生三极管集电极Ic。
Ctr = Ic / If * 100.
Ctr并非越大越好。多数电路设计要求Ctr限制在某个区间，超出设计范围往往会影响电路的长期、稳定工作。
对于PC817，施加电流If=5mA，测试Vc=5V时的集电极电流Ic，得到Ctr。当Ctr大于等于50，小于等于600时为合格；PC817A的Ctr在50%到100%之间。
8. 测试电流转换曲线
所谓的线性光耦，就是在If的某个区间内，Ctr保持不变。电流转换曲线能够直观地显示光耦的线性度。参见下图。If从5mA到15mA时，Ctr变化较小。
对比特征曲线的意义：
在某些场合，要求两个光耦尽量匹配。这时就可以通过学习-比较测试，把两个光耦的特征曲线显示在一起，方便挑选特性接近的器件。
二、输出带基极型无源光耦
电路原理图如下。下面以4N35（ISOCOM）为例进行测试。了解该光耦的具体参数参见相关厂家的4N35的PDF。
测试步骤如下：
2.1 根据连接提示，将A口01与光耦第1脚（正极）相连，A口02与光耦第5脚（集电极）相连，光耦第2脚、第4脚与测试仪的GND相连。
2.2 点击测试按钮 开始测试，然后会出现下面的提示框，
根据提示，将A口的01连接到光耦的基极（第6脚），A口02连接到光耦的集电极（第5脚），然后点击确定按钮，显示如下测试结果：
三、输出带基极型有源光耦
电路原理图如下。下面以6N135（QT）为例进行测试。了解该光耦的具体参数参见6N135的PDF。
测试步骤如下：
3.1 根据连接提示，将A口01与光耦第2脚（正极）相连，A口02与光耦第6脚（集电极）相连，光耦第3脚、第5脚与测试仪的GND和直流稳压电源的GND(负极)相连，第8脚（VCC）连接稳压直流电源的正极。
3.2 通过直流电源给光耦施加正5V电源电压，点击测试按钮 开始测试，然后会出现下面的提示框，
根据提示，断开电源，将A口的02端子连接到光耦的电源脚上（第8脚），点击确定按钮，
弹出如下提示框，
根据提示，将A口的01端子与光耦基极（第7脚）相连，A口的02端子与光耦集电极（第6脚）相连，点击确定，显示测试结果如下：
3.3 测试Hfe
Hfe是指晶体管的直流放大系数，hFE是指在静态(无变化信号输入)情况下，晶体管Ic与Ib的比值，即
Hfe=Ic/ Ib
3.4 测试ICCH
Icch，即LogicHigh Supply Current，高电平输出电源电流。
3.5 测试ICCL
Iccl，即Logic Low Supply Current，低电平输出电源电流。
四、输出不带基极型有源光耦
典型器件TLP759(东芝)，电路原理图如下。了解该光耦的具体参数参见TLP759的PDF。
测试方法参考第三类6N135。
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