一、什么是hFT测试:
《汇能》测试仪上的“IC离线测试”起名为“hFT”测试。与同类产品相比：
1.真正实现了“按照器件PDF资料中的参数规定，对主要直流参数进行定量测试”，也叫做“性能测试”;
2．一个器件型号可以关联三种测试：端口（ASA曲线）测试、功能测试、和性能测试：
端口测试：对任何器件，均可进行建库、测试、查找；
功能测试：
a. 可对各种逻辑器件（74/54、4000系列为代表）建库测试；
b. 可对各种电压型运放建库测试；
c．可对5种类型的光耦器件建库测试；
d．可对基本的模拟电压比较器建库测试。
性能测试：
a. 可对LS、HC、HCT、AC、ACT型逻辑器件建库测试
b. 可对各种电压型运放建库测试；
c. 可对5种光耦器件建库测试。
对于更多种器件的功能、性能测试，正在扩充之中。
二、IC测试和IC测试仪
市面上有多种IC测试仪，价格从数百元到十数万元；有多种描述其特色的说法：例如“疑难器件测试”、“高压器件测试”、“覆盖所有高频故障的测试”、“IC筛选测试仪”等等。到底应该选择哪种呢？
实际上，从测试技术角度，IC器件测试就分三种：端口测试、功能测试、和性能测试。各种特色说法所覆盖的故障，均可归入这三种测试。例如“疑难器件测试”，其实就是使用ASA曲线实现的端口测试；“覆盖所有高频故障的测试”，只是频率略高的功能测试；“逻辑器件识别”，就是功能测试的连续使用。等等。最后你会发现，只要搞清楚了三种测试技术以及各自覆盖的故障类型，再从测试技术的角度（具体如何实现测试的）去了解不同测试仪，就清楚很多。
另外，搞清楚三种测试，对用好测试仪也会有很大帮助。
三、三种测试
1． 端口故障和端口测试
检测器件管脚电压-电流特征叫做端口测试。端口测试能够发现与管脚关联的PN结损坏导致的IC故障。
维修中的绝大部分是端口故障，所以端口测试主要在维修测试中有效。这很容易理解。器件在使用中，各种干扰、冲击等首先作用在端口上。
新器件的故障发生在生产过程中，多数不是端口故障，所以端口测试不适用于新器件质量检测。
用万用表的电阻档、二极管档测试管脚都属于端口测试；ASA（VI）曲线测试是目前效果最好的端口测试技术。这几种端口测试的共同特征是无需给被测器件加电。
2． 功能故障和功能测试
功能故障指在任何测试条件下，器件都不能实现规定的电路过程。功能故障就是常说的“器件坏了”。新买来的器件有功能故障的可能性很小，即使是“二手器件”、“水货”，也不会有功能故障。卖方不可能公开销售“坏器件”。
功能测试指不考虑测试条件（通常是最宽松的条件），定性地检测器件能否完成规定的电路过程。例如，在功能测试下，74LS00、74HC00、74ACT00是一样的（功能相同）。所以，功能测试和功能故障相对应。
3． 性能故障和性能测试
性能故障多指器件完成电路过程的质量不符合规定。例如，不能驱动规定大小的负载、不能工作在规定的最大频率、漏电流超过规定值等等。
性能故障就是常说的“器件不好”，或者说“劣质器件”。“二手”、“水货”、“小厂”器件通常意味着性能不好，也就是器件有参数不达标。在电路板维修中，性能故障历来让人头痛。维修中常说的“疑难”故障、不稳定类故障，多数由于器件在使用过程中指标下降所导致。
性能测试通过检测器件参数是否达标实现。在性能测试下，74LS00、74HC00、74ACT00是不同器件。早期电路板维修中，基本没有人考虑性能测试，近年来有所改变。原因在于：
一个器件有很多个参数。测试的参数越多，对器件的质量把握越大。能够测试器件所有参数的集成电路测试仪价格高昂，多用于集成电路研发、制造以及特殊应用场合。在中、小企业器件入厂检测、电路板维修场合，需要在测试成本和效果之间平衡，选择测试部分参数（的产品）。
当你了解这些测试技术后，你就对一些说法具有了判断能力。举两个例子。
用2兆频率的功能测试，“足以覆盖高频动态参数故障”是不可能的。这是因为性能测试必须在规定的条件下测试参数是否达标。不同器件的最高工作频率不同，如何用同一个频率去检测所有器件？一般IC器件最高工作频率都在数十兆以上，比2兆高很多倍，如何检测出高频动态故障？ 这就好比用时速20公里来检测所有品牌、类型汽车的高速性能是否达标。
有人说VI曲线也能测试参数。理由是如果ASA曲线测试漏电严重，器件不能工作，一定有参数不达标。对于这种太外行的说法，举个例子可能更好理解其中错误。眼睛看到器件发黑（被烧坏），不能工作，所以一定有参数问题，不能由此说眼睛也有IC器件参数测试能力。
本文不具体介绍器件主要参数以及测试条件。有兴趣者可参见或索阅相关资料。
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