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Ver6.0功能介绍——综合器件(离线)建库、测试

4综合器件(离线)建库、测试


本功能用于检测IC器件的(质量)好坏。本功能提供三种不同类型的测试:

 

a.ASA 曲线测试

通过检测器件管脚的ASA曲线特征判断好坏。ASA可以测试任何类型的IC器件;建库时无需了解器件的工作原理,对任何种类的器件,有统一的建库方法,通过简单操作即可完成建库;属于间接、定性测试;

 

b.FT功能测试

检测器件是否能够完成规定的电路过程。测试器件“坏没坏”。属于直接、定性测试。

 

c.hFT 混合测试

在功能测试成功能的基础上,进一步按照PDF资料中规定的测试条件,测试主要直流参数是否达标。测试器件“好不好”。属于直接、定量测试。建库时需要了解器件的工作原理、参数定义。不同类型的器件需要不同的建库方法。

 


主界面如下:


 


4.1 选择测试类别


在上面的工具栏中,鼠标左键单击:

 

a.:选中“ASA曲线”测试,列出建有ASA曲线库的所有器件。执行ASA曲线建库、测试;

b.:选中“FT”测试,列出建有FT库的所有器件。执行FT建库、测试;

c.:选中“hFT”测试。列出建有hFT库的所有器件。执行hFT建库、测试;

 


4.2 器件建库


a.添加新器件


鼠标右键单击列表窗口空白处,弹出添加窗口:

 


 


这里必须正确输入“型号”、“封装”、“脚数”和“类别”。目前支持双列封装。支持的类别有:逻辑器件、光耦、运放和模拟电压比较器。这些均在不断扩充之中,以实际软件为准。


“说明信息”、“脚名称”显示在封装示意页。“器件信息”显示在器件信息页。参见下图示例:


 


b. 建ASA曲线库


选中测试ASA,右键单击要建库的器件行,在弹出的菜单窗口中单击“建测试库”,打开测试参数设置窗口:

 


 


设置完参数,单击“确认”,转入“测试曲线”界面。具体参见“iASA图像建库测试”3.3的b。


找个好器件放在离线测试适配器上进行测试,软件自动记录测试结果,退出后,一个“√”出现在器件行的“版权”列,说明已经完成建库。

 

b. 建FT库
选中测试FT,右键单击要建库的器件行,在弹出的菜单窗口中单击“建测试库”,打开窗口如下:

 


 


器件类型不同,“设置子器件”小窗口中的第二项不同。下面列出几种选项:

 

 

逻辑器件 光耦 运放

 

 

1)逻辑器件


如果以后还要添加hFT建库部分,必须选择和被测器件一致,否则可任意。完成后,单击“设置子器件参数”,进入设置界面(以74LS03为例):

 

 


74LS03的功能封装图如下。可参照下图了解上图中输入的相关含义。

 


 


2)光耦


按照电路结构分为6种类型。一个光耦器件封装中可能不止一个光耦,每个称为一个“子器件”。允许一个封装中有不同类型的子器件。完成后,单击“设置子器件参数”,进入设置界面(以HCPL-2201为例):

 


 


3) 运放


只有两种。一个封装只允许是一种电源类型。完成后,单击“设置子器件参数”,进入设置界面(以双电源为例):

 


 


4.3 测试器件


a. ASA 测试


1)单个比较:


单击库列表中某个器件后,单击,将当前被测器件曲线,与选中器件进行比对,当所有管脚曲线的误差不超过指定范围时,提示测试通过;

2)批量比较:


单击库列表中某个器件后,单击,将当前被测器件的曲线,与库中所有封装、脚数与选中器件相同的器件进行比对,最后把所有管脚曲线误差均不超过指定范围的那些器件列表在屏幕上。有人将类似功能称为“疑难器件识别”。

 

b.FT/hFT测试

单击库列表中某个器件后,单击,按照选中器件的功能、参数检查被测试器件。所有参数据符合要求提示通过测试、有一个参数超过规定的最大或最小范围提示测试失败、超过典型值提示但不作为测试失败。



 

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