1．《汇能》测试系统Ver2.0

a. 系统组成

测试系统Ver2.0 = 测试软件AppCFT Ver2.0 + （一种）测试仪。目前共有5种型号的测试仪。在介绍测试系统时，会介绍该系统的所有功能。鉴于不同型号测试仪之间的硬件差异，有的支持全部系统功能，有的仅支持部分系统功能。测试系统需配接电脑。需Windows操作系统。

b. 主要测试技术

1）ASA（VI）曲线测试技术
当前最流行的、面向无图纸电路板的故障检测技术。测试时无需加电——相对最安全；不受器件类型——无论模拟、数字、数模混合器件都能测试；不受封装限制——只要管脚能接触上就能进行测试；

2）后驱动技术
一种硬件隔离技术。在线测试测试数字器件时屏蔽关联器件对测试的干扰；

3）自适应技术
一种软件隔离技术。在线测试逻辑器件功能好坏时，屏蔽器件自连接、管脚状态锁定等无法用后驱动技术屏蔽的在线干扰。

2．主界面及主要功能设置

a． 探棒直接测试（ASA曲线）

用一根探棒测试、或用两根探棒对照测试器件管脚ASA 曲线、仅显示当前测试曲线。“直接测试”意味着不在电脑中存储数据，现学现比，像使用万用表一样简单、方便，主要用于检测不会重复维修、因此无需建库的电路板。

b． 器件ASA（曲线）直接测试

支持探棒/测试夹/座测试器件管脚ASA 曲线、同时显示所有管脚曲线，便于相互参照。

c． 电路板图像建库测试

“建库测试”指可把好板的ASA 曲线存储在电脑中，供日后使用，就像手边总有一块好板；“图像建库测试”指无论是测试好板曲线、还是比对好、坏板的曲线，在被测试电路板的图像上进行。

d． 逻辑器件（在、离线功能）测试（CFT、CFT-I 无此功能）

支持在、离线测试器件库中的逻辑器件功能好坏。不存储测试结果。器件库中有约万余种器件型号。

e． 存储器件（在、离线功能）测试CFT、CFT-I 无此功能）

支持使对器件库中的SRAM、DRAM、PROM、EPROM 等存储器件进行功能好坏测试。不存储测试结果。器件库中有约3000 余种器件型号。

f． 用户自定义测试CFT、CFT-I 无此功能）

全面开放测试仪的数字、模拟通道，用户可方便地定义通道输出信号、从指定通道读回外部信号，由此实现用户定义的测试。存储测试结果。

g． ASA 曲线建库测试

早期测试功能，被“电路板图像建库”取代，保留在此是为了老用户继续使用原来建的电路板库。

3． 系统Ver2.0 中的测试仪

	CFT 尺寸: 250mmX130mmX50mm 重量：1Kg 主要测试硬件：双测试探棒。
	CFT-I 尺寸：385mm×155mm×362mm 重量：7kg 主要测试硬件： a. 双测试探棒； b. 40 路28V 双属性模拟通道。
	TH4040 尺寸：440mm X 370mm X 10mm 重量：7kg 主要测试硬件： a. 双测试探棒； b. 40 路8V 单属性模拟通道 c. 40 路5V 带后驱动数字通道 d. 8 路总线隔离通道 e. +5V 输出电源
	HN1600/4840 尺寸：385mm×155mm×362mm 重量：9Kg 主要测试硬件： a. 双测试探棒； b. 40 路28V 单属性模拟通道 c. 40 路5V 带后驱动数字通道 d. 8 路总线隔离通道 e. ±5V、±12V 输出电源
	HN1600/4880 尺寸：385mm×155mm×362mm 重量：9.5Kg 主要测试硬件： a. 双测试探棒； b. 80 路28V 单属性模拟通道 c. 40 路5V 带后驱动数字通道 d. 8 路总线隔离通道 e. ±5V、±12V 输出电源