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Ver6.0功能介绍——存储器功能测试

 

6.存储器件在线/离线功能测试(CFT-II不支持此项功能)


除了测试代码长之外,在线处理与逻辑器件基本相同。可测试SRAM、DRAM、PRPM、EPROM约3000余种型号。下面对存储器件的测试方法进行说明。

1.只读存储器(PROM,EPROM)


学习:从好的器件中,读出所存储的内容,存成数据文件,作为测试的参照标准;


测试:读出被测器件中的内容,与学习内容进行逐字节比较,完全一致说明被测器件物故障;否则详细显示出错地址、该地址中的正确内容和当前出错内容。

 

2.读写存储器(SRAM,DRAM)

先写入01010101,读出检查、再写入10101010,再读出检查。两次正确说明该存储单元功能正常。由于破坏存储内容,对于电池支持的SRAM存储器,除非有办法恢复原有内容,否则不能测试。在维修测试中,常常不需要检测存储器件的每一个存储地址。为此设施了两种测试方案:

a.快速测试


从存储器的全部地址单元中,按一定算法选取其中若干单元进行测试。


b.完全测试


对每一个存储单元都要进行检测。优点是测得仔细,缺点是测试时间较长。参见下面的EPROM学习界面。界面中以反汇编形式显示的学习内容。

 

 

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